Applicable Electronics(美國)

AEI

美國AEIApplicableElectronicsInc.www.applicableelectronics.comAEI(ApplicableElectronicsInc.)公司由AlanShipley成立于1984年。AEI公司與ScienceWares公司合作，設計開發(fā)由電腦控制的、快速的、非損傷的掃描微電極測量系統(tǒng)，用以檢測傳導介質溶液中的離子流。AEI公司主要負責設計和制造硬件系統(tǒng)，包 括計算機控制運動定位系統(tǒng)、各種信號放大器、視頻縮放系統(tǒng)及各種機械裝置和配件。一、非損傷的掃描微電極測量系統(tǒng):SIET/SPETSIET（掃描離子選擇性電極技術）可以在皮摩爾量級測量離子濃度變化。SPET(掃描式極譜電極技術)可以測量溶于水的氧分子的濃度變化。電極在三維步進電機控制下按照事先設定好的取樣規(guī)則從一點到另一點地運行，可進行一維，二維，三維或者按照用戶自設的復雜路徑測量。不同種類的極化電極，如Clarkwhalen型、陰極型氧電極，碳纖維NO電極，還有很多其他種類的極譜電極都得到了廣泛的應用。SVETSVET(掃描振蕩電極技術)能夠以每點約50毫秒的速度，在納伏（nV）量級測量電壓的梯度。正弦波發(fā)生器驅動壓電晶體傳感器以實現(xiàn)二維的振蕩。電極振蕩頻率可達200Hz到1KHz，不會對電壓梯度造成擾動。配有專門為SVET設計的PSD-2放大器。SLEISPSD-2放大器和前置放大器同樣適用于SLEIS（掃描局部電化學阻抗譜技術）在1KHz以下范圍（比較經典的是30-100Hz范圍）的測量。實際上，一種方法是將微電極固定不動，用PSD-2的振動器驅動樣品，直接或通過電勢恒定器。另一種模式是一個軸向使用SVET,另一個使用SLEIS,在電勢恒定器的控制下同時對樣品進行掃描。這種測量方式可以給使用者提供很高的敏感性，但是同時在空間分辨率上受電極所限，一般直徑5-50微米。DVITDVIT（視頻差成像技術）是一種定位金屬表面腐蝕的圖像辨別技術，可對一系列圖像的微小差別進行計算和分析，從而鑒別出腐蝕開始的位置。有時需要在溶液中加入化學指示劑染料作為輔助。并可以和SVE