JY-3128是專門(mén)用于測(cè)試邦定IC引腳開(kāi)短路功能的儀器。隨著邦定內(nèi)部晶片體積越來(lái)越小，引腳越來(lái)越密，在生產(chǎn)過(guò)程很容易中出現(xiàn)引線短路或開(kāi)路現(xiàn)象，而且目視檢查分辨非常困難，一般的功能測(cè)試也難以全面測(cè)試所有引腳，而且測(cè)試的時(shí)間長(zhǎng)，本儀器具有樣機(jī)學(xué)習(xí)功能，快速比較在測(cè)試板與樣板之間的內(nèi)部阻抗差異，通過(guò)LCD顯示屏，直接顯示開(kāi)路或短路的引腳，具有自動(dòng)找點(diǎn)的功能，十分順利的找到不良的地方。全中文的操作界面，還帶有自動(dòng)計(jì)數(shù)功能，良品與不良品分開(kāi)計(jì)數(shù)，使用極為方便！
 
可測(cè)試多達(dá)128個(gè)引腳
可在1秒內(nèi)測(cè)試128條線的開(kāi)短路
可測(cè)試任意腳之間是否短路（不僅僅是相鄰腳之間）
全中文操作介面，使用簡(jiǎn)介
能自動(dòng)的列出不良品的位置，方便修理
具有找點(diǎn)功能，方便的尋找不良點(diǎn)的位置
具有學(xué)習(xí)功能，自動(dòng)的記錄每個(gè)引腳參數(shù)，可儲(chǔ)存產(chǎn)品的測(cè)試數(shù)據(jù)
具有自動(dòng)重測(cè)功能
具有標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模式與自動(dòng)測(cè)試模式
支持多片同時(shí)測(cè)試，連片同時(shí)測(cè)試
具有聲音提示
具有統(tǒng)計(jì)功能