X射線光譜法測(cè)硫儀（X射線光譜法）是按照中華人民共和國標(biāo)準(zhǔn)GB/T11140、GB/T17040、 ASTM D4294所規(guī)定的要求設(shè)計(jì)制造的
技術(shù)參數(shù)：
1、X射線光譜法測(cè)硫儀（X射線光譜法）快速分析,一般兩百秒內(nèi)自動(dòng)給出含量結(jié)果；
2、X射線光譜法測(cè)硫儀（X射線光譜法）自動(dòng)C/H比修正，適合多種樣品 ；
3、X射線光譜法測(cè)硫儀（X射線光譜法）采用X光管激發(fā),使儀器能長(zhǎng)期使用,而不受源衰減的影響；
4、X射線光譜法測(cè)硫儀（X射線光譜法）智能測(cè)控系統(tǒng)，儀器以大屏幕液晶顯示；
5、X射線光譜法測(cè)硫儀（X射線光譜法）操作采用中文菜單方式,操作簡(jiǎn)便。打印機(jī)能打印測(cè)量數(shù)據(jù)；
6、X射線光譜法測(cè)硫儀（X射線光譜法）采用物理分析方法,分析中不接觸、不破壞樣品,無需化學(xué)試劑；
7、X射線光譜法測(cè)硫儀（X射線光譜法）采用一體化設(shè)計(jì),集成化程度高,可靠性好,維修方便；
8、X射線光譜法測(cè)硫儀（X射線光譜法）環(huán)境適應(yīng)能力強(qiáng),長(zhǎng)期穩(wěn)定性好
主要特點(diǎn)：
X射線光譜法測(cè)硫儀（X射線光譜法）適用于測(cè)定石油產(chǎn)品的微量硫含量。X射線光譜法測(cè)硫儀（X射線光譜法）采用物理分析方法，具有分析速度快、無需復(fù)雜的樣品預(yù)處理、高、人為誤差小、操作工勞動(dòng)強(qiáng)度低、無污染等特點(diǎn)，X射線光譜法測(cè)硫儀（X射線光譜法）故已在國際上廣泛應(yīng)用并基本取代其它測(cè)硫的分析方法。
