CMI 243是一款專門為測量磁性金屬上的涂鍍層(如鋅、鎳等)厚度而設(shè)計的便攜式膜厚儀。的渦電流測試方法使測量更。的微型測量探頭幾乎可以測量鐵質(zhì)底材上的金屬鍍層，高端配置的測量探頭對細(xì)小的件也可以測量，幾乎可以運用于任何形狀的產(chǎn)品。它具有X射線熒光的測量，同時也避免了庫侖法對被測工件帶來的破壞。CMI 243在設(shè)計上更加合理、、實用。
●ECP-M探頭：鋅、鎳均可以測量
●準(zhǔn)確度：&plun;1%
●測量范圍：0.08-1.50mils(2-38μm)
●分辨率：0.01mils (0.1μm)
●適用標(biāo)準(zhǔn)：合ASTM B244—b259，DIN 50984，ISO 2360，ISO 29168(DRAFT),BS 5411 part 3
●單位：英制和公制單位自動轉(zhuǎn)換
●統(tǒng)計數(shù)據(jù)顯示：讀取次數(shù)，平均值，標(biāo)準(zhǔn)差，值，值，終值
●記憶儲存：12,400個數(shù)據(jù)儲存
●接口：RS-232串行端口，波特率可調(diào)，可接打印機或計算機
●顯示：液晶顯示(LCD),字高度1/2” (1.27cm)
●電池：9V干電池或可充電電池。
●尺寸：57/8” (L) ×31/8” (W)×13/16” (D) (14.9×7.94×3.02 cm)
●重量：9盎司/0.26kg, (包括電池重量在內(nèi))
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