DRE-2C導熱系數(shù)測試儀（瞬態(tài)平面熱源法）導熱系數(shù)測試儀 型號:XTYQ-DRE-2C

DRE-2C導熱系數(shù)測試儀采用瞬態(tài)平面熱源法，主要測量固體、粉末、涂層、薄膜、各向異性材料等的導熱系數(shù)。本儀器基于TP瞬態(tài)平面熱源技術，用Hot Disk作為的導熱系數(shù)測定儀。

Hot Disk法的優(yōu)點有：

(1)直接測量熱傳播，可以節(jié)約大量的時間；

(2)不會和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響；

(3)無須特別的樣品制備，只需相對平整的樣品表面。

主要技術指：

1、導熱系數(shù)測定范：0.0001—100W/mk,辨率:0.0001 W/(m·K)；

2、測量時間：1-600秒,

3、測量相對誤差：≤3%；重復性誤差：≤ 3%；

4、溫度范：準測量：室溫，可根據(jù)客戶要求選配各種溫度段的測試溫度，如室溫～150℃選配恒溫實驗箱,-40℃～150℃選配高低溫實驗箱等，費用另計；

5、樣品尺寸：樣品尺寸：不小于30*30*7.5mm;單層不夠的可多層疊加檢測，相對平整的樣品表面,粉體材料可用直接插入檢測；

6、儀器參考準：IO 22007-2008及GB/T32064-2015建筑用材料導熱系數(shù)和熱擴散系數(shù)瞬態(tài)平面熱源測試法.

7、操作方便，測試速快，僅需將測試夾在兩塊試樣塊中間，通過簡單的軟件點擊操作即能獲得被測試樣的導熱系數(shù)。

8、 電源：電壓220V；頻率50Hz；功率<500W,

9、通訊接口：UB接口。

技術指：

1. 加熱材料：金屬鎳；

2. 使用溫度：-50～150℃；

3. 大功率：20w；

4. 大電壓：20V；

5. 大電流：1A；

6. 電阻：10Ω，依注阻值為準；

7. 鎳絲規(guī)格：厚度0.01mm,熱絲寬度：0.35±0.03mm；熱絲間距：0.35±0.03mm ；

8. 保護層材料：聚酰亞胺薄膜（Kapton）；單層厚度：0.06mm

9. 直徑：7.5mm或15mm，兩種規(guī)格任選其一；

10. 總厚度（包括粘結層厚度）0.07±0.02mm。

儀器配置：含DRE-2C測試主機1臺，測試1個（兩種規(guī)格任選其一），測試軟件1，通訊接口及線1，樣品夾具1個，需方自備電腦，如需選配恒溫裝置，費用另計。

導熱系數(shù)測試儀 型號:XTYQ-DRE-2C導熱系數(shù)測試儀 型號:XTYQ-DRE-2C