YQ-GF-PID光伏組件PID測試系統(tǒng)

一、概述：

 YQ-GF-PID型光伏組件PID測試系統(tǒng)/電勢誘導衰減測試系統(tǒng)是常州宇清電氣科技有限公司自主研發(fā)的，測試目的：1.評估光伏組件承受系統(tǒng)偏壓的能力；2.測試光伏組件承受系統(tǒng)電壓、溫度、濕度等各種應力的能力；3.減少和預防PID現(xiàn)象。

執(zhí)行標準：IEC 62804 （Draft）。

光伏應用越來越多，電站規(guī)模越來越大，組件串聯(lián)的數(shù)目不斷增大。這樣，太陽能組件承受高對地勢能的幾率越來越大。當系統(tǒng)的一端接地時，距離接地端遠的組件對地將產(chǎn)生較高的電勢，美洲接近600V，歐洲接近1000V。一般來說，泄漏電流是經(jīng)過封裝材料、鋁邊框或安裝支架流入大地的。泄漏電的大小與電池片材料及工藝、組件材料及工藝、系統(tǒng)安裝方法、環(huán)境溫度、環(huán)境濕度等因素有關。長期泄漏電將使電池片載流子及耗盡層狀態(tài)發(fā)生變化、電路中的接觸電阻受到腐蝕、封裝材料受到電化學腐蝕，從而導致電池片功率衰減、串聯(lián)電阻增大、透光率降低、脫層等影響組件長期發(fā)電量及壽命的現(xiàn)象。

對組件來說，泄漏電途徑如下圖所示。

泄漏電的途徑主要經(jīng)過玻璃（I₁）、EVA 與玻璃的界面（I₂）、EVA（I₃）、背板材料（I₄）和邊框密封材料等到達邊框。

二、測試標準：

1.PID 測試標準引自 IEC 62804 （Draft） “System voltage durability test for crystalline silicon modules – design qualification and type approval”，基本要求是準備 3 塊組件。其中一塊作為控制組件，組件置于一定溫度和濕度的環(huán)境中，將組件的內(nèi)部導電體與高壓電源的一個極連在一起，組件外導電體與高壓電源的另一極連在一起。 一塊組件在正偏壓下進行老化，一塊組件在負偏壓下老化。

2.測試條件如下：

環(huán)境溫度：60℃±2℃；

環(huán)境濕度：85%±5% RH；

測試時間：96 小時；

測試電壓：在組件需滿足的正系統(tǒng)電壓下或負系統(tǒng)電壓下。

3.組件老化前需經(jīng)過光老化、外觀檢測、功率測試、絕緣測試、接地連續(xù)性測試（如果組件有外漏導電體），老化后需進行濕漏電測試、功率點測試、外觀檢測、絕緣測試。

具體測試序列見下圖所示：

三、功能特點：

1.組件邊框端接地，既模擬實際情況，又防止了測試過程中由于邊框高壓引起的潛在危險；

2.對于每塊組件，采用4線制測試方法，2根高壓線，2根接地線，高壓線通過接線盒與組件內(nèi)部連在一起，接地線與邊框連在一起或連接在其他有效位置；

3.多路電流同時顯示，報警參數(shù)單獨設置，單路通斷控制；

4.正電源和負電源的無弧化轉(zhuǎn)換，模擬系統(tǒng)的正極接地或負極接地；

5.倒計時功能，可設置測試時間，自動停止；

6.上位機記錄測試中數(shù)據(jù)；

四、參數(shù)配置：

?  設備型號：YQ-GF-PID

?  外觀尺寸：640mm*640mm*1500mm

?  電源電壓：-1500V～0V/ 0～+1500V

?  電源時漂：≤0.3%/h

?  電源溫漂：≤0.5‰/℃

?  電源紋波：≤0.5%

?  電流范圍：1～1000 uA /-1000 uA～-1

?  試驗時間：0～168h

?  絕緣電阻：＞1000MΩ

?  測試組件數(shù)：可定制

五、軟件介紹：

1.實時顯示泄漏電流（微安級）、泄漏電量、絕緣電阻、組件溫度、濕度等參數(shù)；

2.顯示當前測試和歷史記錄中的泄漏電流 （微安級）、泄漏電量、絕緣電阻、組件溫度、濕度等曲線； 

3.多路測試條件單獨設置，包括測試時間、系統(tǒng)報警參數(shù)等；

4.所有數(shù)據(jù)可以 Excel 或 Access 表格形式存儲，方便數(shù)據(jù)處理。

六、設備配置：

機柜         1 

主機         1 

記錄系統(tǒng)      1 

控制系統(tǒng)      1

電源         1