| 品牌：美國麥克儀器 型號：SediGraph III 5120 |
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| 詳細(xì)說明: |
| 產(chǎn)品簡介新一代的粒度分析儀將成熟的SediGraph分析技術(shù)與的檢測儀器功能相結(jié)合，提供卓越的重復(fù)性、準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性。 SediGraph III通過X射線吸收測量樣品質(zhì)量，利用國際標(biāo)準(zhǔn)的沉降法測量粒度，無需建模。該產(chǎn)品的技術(shù)已成為造紙、陶瓷、磨料等數(shù)個(gè)行業(yè)的金色標(biāo)準(zhǔn)。技術(shù)特點(diǎn)· 檢測范圍：0.1 到300 μm· 全顆粒度測試，無需建模· 選配的MasterTech 052自動(dòng)進(jìn)樣器提供多至18個(gè)樣品的自動(dòng)進(jìn)樣，無需人為介入 產(chǎn)品應(yīng)用適合于各種無機(jī)材料顆粒大小的分析研究尤其是非金屬礦物，例如：高嶺土、重鈣、輕鈣、粘土、泥漿等材料的分析，是高嶺土，重鈣，輕鈣粒徑的標(biāo)準(zhǔn)分析儀器。 |
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