一、產品特點：
采用面陣列模式研發(fā)的高亮度光源，透過其被測物投射到光源上，從而能清晰地提取出外形輪廓特征。
二、應用領域：
1、各類電子元器件；
2、IC的外型檢測；
3、透明物體表面或者內部劃痕檢測等；
4、產品的外形輪廓識別及尺寸測量。
采用面陣列模式研發(fā)的高亮度光源，透過其被測物投射到光源上，從而能清晰地提取出外形輪廓特征。
二、應用領域：
1、各類電子元器件；
2、IC的外型檢測；
3、透明物體表面或者內部劃痕檢測等；
4、產品的外形輪廓識別及尺寸測量。
