我公司基于老化技術(shù)以及國(guó)標(biāo)《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》相關(guān)要求設(shè)計(jì)的LD老化試驗(yàn)臺(tái)可以模擬LD的各種工作環(huán)境，測(cè)試LD在不同工作環(huán)境下的各電參數(shù)和光參數(shù)，并進(jìn)行分析，從而元器件產(chǎn)品整體的性，使得產(chǎn)品性能更加。整個(gè)LD老化試驗(yàn)箱的基本組成包括：LD卡具、溫度控制、LD驅(qū)動(dòng)和光特性分析等四部分組成。采用抽屜式積木結(jié)構(gòu)將各功能部分與試驗(yàn)箱組合在一起。
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