CHERSCOPE® XDL® X射線熒光光譜儀
XDL鍍層厚度測量儀特點
- 堅固耐用的鍍層厚度測量設(shè)備，甚至可在較大的距離測量（DCM功能，范圍0-80 mm）工作
- 固定光圈和固定濾光鏡
- 用于1mm起大小的測量點
- 底部C型開槽的大容量測量艙
- 可編程的臺式設(shè)備，用于自動測量
- 標準X射線管，比例計數(shù)器
XDL鍍層厚度測量儀典型應用領(lǐng)域
- 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍件
- 腐鍍層和裝飾性鍍層，如鎳/銅上的鉻。鉻層測厚、銅厚測量
- 電鍍工業(yè)中電鍍液的分析
- 黃金、珠寶和鐘表工業(yè)
X射線熒光測試儀，可手動或全自動測量功能性鍍層(包括鉻層測厚、銅厚測量)、腐蝕鍍層和大規(guī)模生產(chǎn)部件
