- 類型：測(cè)試卡
- 產(chǎn)品別稱：分辨率測(cè)試卡
- 探測(cè)器分辨率：99%
- 圖案布局：T型
- 外尺寸：40 x 30 x 5mm
- 芯片尺寸：5 x 5 x 0.015mm
- 線\/空間尺寸：32種規(guī)格圖案
- 操作溫度：10-70度
X射線分辨率測(cè)試卡
JIMA RT RC-04
采用半導(dǎo)體技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了從10 μm到0.1 μm納米級(jí)的23種線和空間。具有納米焦點(diǎn)和微焦點(diǎn)分辨率的x射線成像系統(tǒng)需要MicroChart來(lái)維護(hù)和檢查其能力和日常校準(zhǔn)。
JIMA RT CT-04分辨率測(cè)試卡
測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
盒子的外形尺寸（W x D x T）：40 x 30 x 5mm
芯片尺寸（W x D x T）：5 x 5 x 0.015mm
圖案布局：T型
線/空間尺寸：32種規(guī)格圖案
0.1μm, 0.15μm, 0.2μm, 0.25μm, 0.3μm, 0.35μm, 0.4μm, 0.5μm, 0.6μm, 0.7μm, 0.8μm,
0.9μm, 1.0μm, 1.5μm, 2.0μm, 3.0μm, 4.0μm, 5.0μm, 6.0μm, 7.0μm, 8.0μm, 9.0μm, 10.0μm
